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Die Anforderungen an moderne Testumgebungen nehmen stetig zu. Neben dem Erfassen rein physikalischer Größen wie Druck, Temperatur, Spannung, etc. müssen immer häufiger auch schnelle Signale von z.B. elektromechanische Steuerungen hochaufgelöst erfasst werden. Das erfordert neue Messkonzepte die „langsame“ und „schnelle“ Datenerfassung synchron vereinen.
